AEC-Q100，著名而嚴(yán)苛的、針對(duì)車(chē)用芯片可靠性的、世界通行的車(chē)規(guī)級(jí)測(cè)試認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)。

100%通過(guò)AEC-Q100全部測(cè)試項(xiàng)目的JHM1101芯片，是經(jīng)過(guò)了怎樣的“拷打”？讓我們一起走進(jìn)具體的測(cè)試環(huán)節(jié)，探究JHM1101的強(qiáng)悍。

預(yù)處理

預(yù)處理的第一步是看顏值，直接目測(cè)、電子顯微鏡下的檢查都是必不可少的。確認(rèn)沒(méi)有任何裂縫之類(lèi)的損傷之后，這3個(gè)批次的JHM1101芯片，需要完成5個(gè)溫度循環(huán)、24小時(shí)的烘烤、再加上192小時(shí)的吸潮和3個(gè)循環(huán)的模擬回流焊。

情況如何？——芯片們?cè)陔姕y(cè)試中表現(xiàn)優(yōu)異，全部一次性通過(guò)。

預(yù)處理中的測(cè)試板供電

溫度循環(huán)

溫度循環(huán)測(cè)試是對(duì)JHM1101芯片進(jìn)行“溫度鍛煉”：通過(guò)循環(huán)流動(dòng)的空氣從低溫到高溫再到低溫重復(fù)變化，溫度范圍-65℃~150℃，完成1000次循環(huán)試驗(yàn)，并且在試驗(yàn)前后需要對(duì)芯片進(jìn)行高溫(150℃)電測(cè)試。

溫度循環(huán)中的測(cè)試用芯片先后通過(guò)了高溫測(cè)試與加速條件下高低溫反復(fù)變化測(cè)試，經(jīng)歷了上千次的高低溫電測(cè)試。

無(wú)論溫度變化如何頻繁，JHM1101電介質(zhì)、導(dǎo)體和絕緣體等不同金屬界面之間始終保持著優(yōu)秀的接觸良率，每顆芯片的每次電測(cè)試都得到了【合格】的測(cè)試結(jié)果。

部分測(cè)試結(jié)果

加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試

芯片在高溫、高濕、高壓的極端環(huán)境中，是否能保持正常工作？類(lèi)比高壓鍋?zhàn)鲆诲侂u湯，鍋里的場(chǎng)景吧。這個(gè)試驗(yàn)條件是溫度130℃、濕度85%、0.2兆帕高壓，芯片放置96小時(shí)，并且試驗(yàn)前后需要通過(guò)常溫、高溫(150℃)的電測(cè)試。

這樣的加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試，分為芯片不加電（無(wú)偏高加速應(yīng)力測(cè)試）和加電（有偏高加速應(yīng)力測(cè)試）兩部分，最終在超級(jí)高壓“桑拿”中沐浴過(guò)的JHM1101芯片，通過(guò)考驗(yàn)，安然進(jìn)入下一步測(cè)試。

與上一項(xiàng)相比，這次的考驗(yàn)不是僅僅是惡劣環(huán)境下的“放置”，而是更加重要的“正常工作”——這些JHM1101芯片，在130℃、85%濕度及高壓、外部供電5.5V的條件下，持續(xù)工作96小時(shí)，并進(jìn)行了數(shù)百次測(cè)試驗(yàn)證。

結(jié)論：JHM1101，一切正常！長(zhǎng)期的惡劣環(huán)境下，依然值得信賴(lài)。

高溫貯存

被扔在150℃高溫中，苦苦地等待2000小時(shí)，最終會(huì)得到什么樣的結(jié)果？問(wèn)問(wèn)我們的JHM1101吧，它們沉著冷靜地通過(guò)了芯片高溫貯存測(cè)試。與此同時(shí)，試驗(yàn)前后需要對(duì)芯片進(jìn)行常溫與高溫(150℃)電測(cè)試，證明它們?cè)谡９ぷ鳌?/p>

高溫貯存測(cè)試給出了結(jié)論：JHM1101在高溫且?guī)啄瓴还ぷ鳁l件下依然能夠加電即正常工作，從貯存的角度再度證明了這款芯片的穩(wěn)定性。

2000小時(shí)后常高溫測(cè)試

早期失效率

早期失效是電子元器件、集成電路等等電子產(chǎn)品的質(zhì)量特點(diǎn)之一，針對(duì)這個(gè)問(wèn)題的驗(yàn)證是必不可少的。三個(gè)批次的JHM1101在150℃，5.5V供電，持續(xù)工作48小時(shí)的試驗(yàn)條件下，全部合格、通過(guò)，完美驗(yàn)證JHM1101的可靠性。

高溫壽命測(cè)試

在150℃高溫環(huán)境下芯片能持續(xù)工作1000小時(shí)嗎？答案是肯定的。JHM1101通過(guò)了這樣的高溫壽命測(cè)試，它們?cè)谡５?.5V供電下，持續(xù)工作1000小時(shí)，并且在之后的低溫(-40℃)、常溫（室溫）、高溫(150℃)各種電測(cè)試中也都一切正常。

高低溫電測(cè)試與上千小時(shí)的持續(xù)工作時(shí)間證明，高溫條件下JHM1101依然擁有穩(wěn)定而符合標(biāo)準(zhǔn)的使用壽命。

AEC-Q100還包括引線、電遷移、靜電、電磁、無(wú)鉛、生產(chǎn)過(guò)程控制等等其他各個(gè)方面的測(cè)試和驗(yàn)證，JHM1101完成了各組實(shí)驗(yàn)檢測(cè)全部合格，達(dá)成了全部測(cè)試樣品百分百合格率，失效只數(shù)0的優(yōu)秀成績(jī)，順利通過(guò)了AECQ-100嚴(yán)苛的各項(xiàng)測(cè)試。

溫箱后的接線

溫箱內(nèi)放置測(cè)試板

無(wú)論是貯存還是工作使用，無(wú)論是高溫、高濕還是高壓使用環(huán)境，JHM1101在AEC-Q100的測(cè)試中全方面多角度體現(xiàn)出自身質(zhì)量?jī)?yōu)良、穩(wěn)定可靠、抗干擾能力強(qiáng)等諸多優(yōu)點(diǎn)。久好電子的芯片，高可靠性、高穩(wěn)定性、高性?xún)r(jià)比！

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